| Nguồn gốc: | Trung Quốc |
|---|---|
| Hàng hiệu: | BAXIT |
| Chứng nhận: | CE |
| Số mô hình: | BXT-N9-D |
| Số lượng đặt hàng tối thiểu: | 1 bộ |
| Giá bán: | US $35463 / Unit |
| chi tiết đóng gói: | Hộp gỗ xuất khẩu |
| Thời gian giao hàng: | 5-8 ngày làm việc |
| Điều khoản thanh toán: | L/C,D/A,D/P,T/T,Western Union,MoneyGram |
| Khả năng cung cấp: | 500 Bộ/Bộ mỗi tháng |
| Phạm vi kiểm tra: | 0,5nm-10.000nm | Phạm vi kiểm soát nhiệt độ: | 5oC -90oC |
|---|---|---|---|
| Kiểm tra công suất mẫu P: | AC100V-240V DC12V/10A | Yêu cầu về môi trường: | 5-45oC, độ ẩm tương đối 10% - 85% (không ngưng tụ) |
| Kích thước ngoại hình: | 650mm×410mm×200mm | Cân nặng: | 20kg |
| Làm nổi bật: | Máy phân tích thế Zeta BAXIT BXT-N9-D,Thiết bị kiểm tra thế Zeta Kích thước hạt Nano,Máy phân tích thế Zeta DLS cho phòng thí nghiệm |
||
Máy phân tích kích thước nano và thế Zeta
Giới thiệu thiết bị
Máy phân tích kích thước hạt nano và thế Zeta là thiết bị phân tích tích hợp mới nhất của chúng tôi, kết hợp kiểm tra kích thước hạt nano và kiểm tra thế Zeta. Nó sử dụng nguyên lý tán xạ ánh sáng động (DLS) bằng cách đo tín hiệu dao động của cường độ ánh sáng tán xạ được tạo ra bởi chuyển động Brown của các hạt trong mẫu và thu được hàm tự tương quan thông qua bộ tương quan kỹ thuật số để phân tích hệ số khuếch tán của các hạt. Kích thước và phân bố hạt được tính toán dựa trên phương trình Stokes-Einstein; Độ linh động điện di của các hạt được xác định bằng cách kiểm tra sự dịch chuyển tần số của ánh sáng tán xạ bởi các hạt dưới điện trường tác dụng bằng kỹ thuật tán xạ ánh sáng điện di (ELS), và thế Zeta và phân bố của các hạt được tính toán theo phương trình Henry; Kỹ thuật tán xạ ánh sáng tĩnh (SLS) được sử dụng để đo cường độ trung bình của ánh sáng tán xạ ở các nồng độ khác nhau của chất chuẩn và mẫu, tính toán tỷ lệ Rayleigh ở mỗi nồng độ và vẽ đường cong Debye để thu được trọng lượng phân tử và hệ số Vili bậc hai của protein và polymer.
Sơ đồ nguyên lý kiểm tra kích thước hạt nano và thế
Tính năng chính
1. Đường quang học kiểm tra sợi quang cho độ nhạy cao
Đường quang học kiểm tra được xây dựng bằng laser bán dẫn ghép nối sợi quang hiệu suất cao, nhiễu thấp và hệ thống thu nhận ánh sáng tán xạ động sợi quang, sử dụng ống nhân quang điện (PMT) HAMAMASTU có độ nhiễu tối thấp, độ nhạy cao làm bộ tách sóng quang, mang lại cho toàn bộ hệ thống kiểm tra độ nhạy và tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu cực cao, tạo nền tảng cho độ chính xác kiểm tra và độ phân giải cao
2,Xác minh hiệu chuẩn toàn dải đảm bảo độ chính xác kiểm tra
Xác minh hiệu chuẩn được thực hiện trên toàn dải bằng nhiều vật liệu tham chiếu kích thước hạt quốc gia, với sai số độ chính xác kiểm tra đều nhỏ hơn 1% (cao hơn yêu cầu của tiêu chuẩn quốc gia GB/T29022-2011/ISO22412:2017).
3 Kiểm soát nhiệt độ không đổi có độ chính xác cao đảm bảo độ ổn định kiểm tra
Laser bán dẫn với công nghệ nhiệt độ không đổi tự động đảm bảo đầu ra laser ổn định và đáng tin cậy. Hệ thống kiểm soát nhiệt độ không đổi có độ chính xác cao giữ cho mẫu đang được kiểm tra trong tế bào mẫu ở nhiệt độ không đổi trong suốt quá trình kiểm tra, tránh sai lệch kiểm tra do thay đổi độ nhớt môi trường và tốc độ chuyển động Brown của hạt do biến đổi nhiệt độ, do đó đảm bảo độ tin cậy và ổn định của kết quả kiểm tra.
|
Số lần kiểm tra |
Giá trị kiểm tra kích thước hạt trung bình |
|
Số 1 |
15,89 nm |
|
Số 2 |
16,08 nm |
|
Số 3 |
16,01 nm |
|
Số 4 |
16,14 nm |
|
Số 5 |
16,19 nm |
|
Số 6 |
16,11 nm |
|
Trung bình |
16,07 nm |
|
Độ lệch chuẩn |
0,11 nm |
|
Sai số lặp lại |
0,66% |
4 Bộ tương quan kỹ thuật số tốc độ cao cho độ phân giải cao
Bộ tương quan kỹ thuật số tốc độ cao tự phát triển, là thành phần cốt lõi để xử lý tín hiệu, thu thập cường độ ánh sáng tán xạ động với tốc độ cao theo thời gian thực và thực hiện các phép toán tự tương quan. Nó có khả năng nhận dạng độ phân giải tín hiệu 6ns, tốc độ xử lý dữ liệu 100 megabit và dải động tuyến tính trên 1011, đảm bảo tính toàn vẹn của đường cong tự tương quan của các hạt có kích thước khác nhau trên toàn dải.
5. Phương pháp phân tích khớp cosin cho phép kiểm tra nhanh chóng
Chuyển động của các hạt, được điều khiển bởi điện trường tác dụng, bao gồm chuyển động điện di định hướng và chuyển động Brown không đều. Do đó, hàm tự tương quan thu được bằng cách phát hiện cường độ ánh sáng tán xạ là sự chồng chập của các tín hiệu khuếch tán và chuyển động điện di của hạt. Phương pháp phân tích khớp cosin có thể thu được hiệu quả tín hiệu dịch chuyển tần số Doppler gây ra bởi chuyển động điện di trong hàm tự tương quan trong thời gian ngắn, loại bỏ ảnh hưởng của chuyển động Brown. Để đạt được kiểm tra thế Zeta nhanh chóng đồng thời giảm thiểu phân cực điện cực và tăng tuổi thọ của tế bào mẫu thế Zeta.
Phạm vi ứng dụng:
Nó được sử dụng rộng rãi để kiểm tra kích thước hạt, thế Zeta và trọng lượng phân tử của các mẫu như nhũ tương nano hữu cơ hoặc vô cơ, bột, polymer, micelle, kháng thể virus, v.v. trong các lĩnh vực khác nhau bao gồm vật liệu mới, hóa chất tinh khiết, kỹ thuật sinh học, sơn và lớp phủ, thực phẩm và y tế, hàng không vũ trụ, khoa học và công nghệ quốc phòng, v.v. Nó cung cấp cơ sở dữ liệu để nghiên cứu và cải thiện hiệu suất vật liệu, kiểm soát chi phí sản xuất và đánh giá độ ổn định của hệ thống phân tán và xu hướng kết tụ hạt.
Ưu điểm sản phẩm
² Bộ tương quan tốc độ cao, độ nhạy cao
² Ống nhân quang điện độ nhạy cao Hamamatsu từ Nhật Bản
² Cấu trúc tuần hoàn khí kép
² Nguồn điện DC đầy đủ
² Laser nhiệt độ và công suất không đổi của Opnex Nhật Bản
Thông số kỹ thuật và cấu hình chi tiết của máy phân tích kích thước hạt nano BXT-N9-D Photocorrelated
| Mô hình | BXT-N9-D |
|
| Nguyên lý kiểm tra | Tán xạ ánh sáng động (DLS), tán xạ ánh sáng điện di (ELS), tán xạ ánh sáng tĩnh (SLS), Quang phổ tương quan photon (PCS) |
|
| Tiêu chuẩn thực thi |
GB/T 29022-2011/ISO 22412:2017 GB/T 19627-2005/ISO 13320:1996 GB/T 32671.2-2019/ISO 13309-2:2012 |
|
| Thông số kiểm tra | Kích thước hạt, thế Zeta, trọng lượng phân tử, hệ số Vili bậc hai |
|
| Kích thước hạt | Góc tán xạ | 90° |
| Phạm vi kiểm tra | 0,5nm-10.000nm | |
| Sai số độ chính xác | ±1% (vật liệu tham chiếu có thể truy xuất nguồn gốc NIS) | |
| Sai số lặp lại | ±1% (vật liệu tham chiếu có thể truy xuất nguồn gốc NIS) | |
| Phạm vi nồng độ | 0,1mg/ml-40%w/v* | |
| Kiểm tra xu hướng | Xu hướng nhiệt độ, xu hướng thời gian | |
| Tế bào mẫu (tùy chọn) | Cuvette polystyrene 4ml, cuvette thủy tinh thạch anh 4ml, cuvette micro 40μl | |
| Thế Zeta | Góc tán xạ | 12° |
| Phạm vi thế Zeta | Không có giới hạn thực tế | |
| Phạm vi độ linh động điện di | >+20μm·cm/V·s / <-20μm·cm/V·s | |
| Phạm vi độ dẫn điện | 0-270 mS/cm* | |
| Phạm vi kích thước hạt phù hợp để kiểm tra | 1nm - 120μm * | |
| Điện cực | Điện cực mao quản hình chữ U | |
| Trọng lượng phân tử | Phạm vi đo | 340 Da - 2×107 Da * |
| Thông số hệ thống |
Nguồn sáng | Laser trạng thái rắn hiệu suất cao, λ = 532nm, P = 30mW |
| Phạm vi nhấn mạnh ánh sáng của các nút | 0-100% tự động điều chỉnh | |
| Bộ tách sóng | Ống nhân quang điện (PMT) | |
| Bộ tương quan | 512 kênh vật lý, thời gian lấy mẫu 0,1us - 1ms có thể điều chỉnh động | |
| Phạm vi kiểm soát nhiệt độ | 5°C đến 90°CĐộ chính xác kiểm soát nhiệt độ | |
| Cộng hoặc trừ 0,1°C | Nguồn điện hoạt động | |
| AC 100V-240V @ 50Hz-60Hz, DC 12V/10A | Yêu cầu môi trường | |
| 5-45°C, độ ẩm tương đối 10% - 85% (không ngưng tụ) | Kích thước ngoại hình | |
| 650mm×410mm×200mm | Trọng lượng tổng thể | |
| 20Kg | Lưu ý: * Liên quan đến mẫu và tùy chọn | |
